製造工程での品質管理データ(計数値,計量値)の記録と解析を行うもの
不良個数に関係するデータの解析としての
不良集計,
p管理図,
パレート図
を主体としている。
これらは、製造工程で発生した不良データの記録と解析に有効です。
パレート図、
ヒストグラム・工程能力、
ヒストグラム・工程能力(Log)、
XバーR管理図、
P管理図、
不良集計(パレート図およびP管理図においては、不良集計用のデータを転用して活用できるようにも設計している。)
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ソフト名: | QCT品質管理の道具 |
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動作OS: | Windows 7/Vista/XP/Me/2000/98/95 |
機種: | IBM-PC |
種類: | シェアウェア |
作者: | 安頭 |
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